半导体测试 - 解决方案
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IT8500G+电子负载自动测试功能，降本增效的好帮手
IT8500G+ 高性能可编程直流电子负载兼具桌面型和系统集成双重使用需求，专为移动电源、工业电源模块、功率电子器件及快充适配器等研发和老化测试而设计研发。该系列产品不仅具备传统的 CC/CV/CR/CP 带载模式，同时提供 CR+CC/CV+CC/CR-LED 等复合带载模式，以广泛适用于不同特性待测物，在限制电流过冲以及动态带载方面具备优异的表现。2026-01-06 09:49:14 -
薄膜磁电阻率测试
某材料领域用户需要进行薄膜磁电阻的电阻率测试，在这个测试中首先需构建变化的磁场，再向待测磁电阻输入高精密恒流源，利用四探针法测试薄膜磁电阻的磁阻及磁电特性。恒流源需以1mA恒流输出,分辨率1nA。还需要有脉冲扫描功能，高电平从100mA扫描到-100mA，低电平为0.1mA。这要求恒流源电源需要有高分辨率高精度以保证测试的精准及稳定、正电流到负电流的连续稳定扫描功能。2025-12-24 09:14:25 -
芯片老化测试/功率器件老化测试
在半导体芯片老化测试中，由电源对待测物进行供电，电子负载进行拉载，虽然电源及负载可以选择高效率产品以降低测试仪器自身的功耗，但这个节能的比例并不高。而回馈式电子负载可以将拉载的直流电转化为合格的交流电送回本地电网再次使用，从测试原理上大幅降低测试成本，具有显著的节能效果。2025-12-23 16:07:47 -
电源管理芯片带载能力验证
在测试板载电源管理芯片的输出动态响应时间时，需要使用小功率高速直流电子负载。对于多轨输出的PMIC，ITECH的IT8700P+系列高速多通道直流电子负载具有非常优秀的表现。IT8700多路负载为ITECH畅销十数年的经典产品，支持16个通道模组的运行及主从并机，广泛应用于电源、电池等行业。IT8700 P +做为经典再升级的新机型，具备更快的动态响应，可实现单模组电流上升速度 12A/ μs。更快的环路速度，可精准控制电流无过冲，提高测试效率。三段电流量程，精度更高，纹波更低。2025-12-23 15:20:56 -
MOSFET 静态I-V 特性
MOSFET 的静态特性主要指输出特性和转移特性，与静态特性对应的主要参数有漏极击穿电压、漏极额定电压、漏极额定电流和栅极开启电压等。本文将介绍如何通过 ITECH 图形化源测量单元 IT2800 实现 MOSFET 的静态I-V 特性和参数测试。2025-12-23 13:39:56 -
负电压供电电源/双极性电源/双极性三通道电源
在新能源、半导体、汽车电子、激光器等前沿应用领域，测试需求日益复杂，传统正电压供电方案已难以满足芯片偏置测试、电化学沉积工艺、运算放大器供电等对负电压及正负压切换的需求。艾德克斯IT-N6300系列三通道可编程直流电源凭借内置的双极性Bipolar输出模式，革新负压供电方案，无需额外接线，即可实现高效稳定的负压供电，大幅提升测试便捷性、稳定性和精度。2025-12-23 11:43:05 -
激光芯片的暗电流测试/激光芯片 LIV 特性
光模块是现代通信技术的核心组成部分，广泛应用于数据中心、5G 网络和光纤通信等领域。光模块通常由光发射组件、光接收组件、激光器芯片（LD）、 探测器芯片(PD）等部件组成。为了确保这些器件在高性能、高速率和高稳定性的要求下正常运行，测试设备的精确性和可靠性至关重要。ITECH 的 IT2800 系 列源表凭借其高精度、高分辨率和高速脉冲扫描优势，为光模块及其核心光电芯 片测试提供了卓越的解决方案。2025-12-23 10:59:26 -
半导体材料表面电阻率/金属薄膜电阻率测量
电子器件的许多重要参数与电阻率及其分布的均匀性有密切的关系，不同于使用万用表测量常规导体电阻，半导体硅单晶电阻率以及微电子领域的其他金属薄膜电阻率的测量属于微区薄层电阻测试，需要利用微小信号供电以及高精密的量测设备。利用IT2800系列高精密源/测量单元可以精准实现半导体薄层电阻的电阻率测试，为半导体制造工艺的改进提供数据依据。IT2800SMU因其高精度测量和丰富的探针台治具优势，为行业提供专业的测试解决方案。2025-12-23 10:10:29 -
激光雷达/VCSEL 器件测试
作为现代汽车、智能交通、工业检测等领域中至关重要的传感器，其可靠性直接关系到整个系统的安全与稳定运行。为了确保激光雷达产品在各种复杂环境下都能准确、可靠地工作，制定一套完善的可靠性测试规范是必不可少的。IT2705是一款高度集成的模块化直流电源分析平台，专为研发测试中的半导体高精密测试、动态功耗测量、电池行为模拟与电源特性研究而设计。它集成了直流电源、电子负载、任意波形发生器、示波采样与数据记录功能，支持图形化操作界面。2025-12-22 16:46:49 -
革新 DC-DC 转换器与电源管理芯片测试方案
电源管理芯片（PMIC）和直流-直流转换器（DC-DC Converter）是电子系统的“能源中枢”，负责电能转换、分配、检测与管理。IT2705 以多功能集成、灵活扩展、高速测量与电池仿真能力，为 DC-DC 转换器和电源管理芯片测试提供高效、精准、可演进的新方案。无论是效率验证、功耗分析还是动态特性评估，IT2705 都能让测试更简单、更可靠。2025-12-22 16:25:33 -
MCU自动化验证解决方案
随着半导体产业演进，MCU 在汽车、工业、物联网等领域应用广泛。其功能日趋复杂，集成了模拟类（ADC/DAC 等）、数字通信类（SPI/I2C 等）、控制类（定时器等）及电源管理类（LDO 等）丰富外设，需经 IP 到系统级多阶段验证，覆盖功能、性能、可靠性测试，以满足不同场景下的严苛需求。2025-08-06 15:17:23 -
光电测试解决方案
随着电信网络、数据中心、AI的蓬勃发展，光电通讯中光电子器件与光模块测试显得尤为重要。我们提供PXI数据采集,数据记录,以及数据处理的解决方案，协助您加速完成光电测试。2025-06-13 15:27:22 -
多通道PMIC验证解决方案
随着半导体市场的发展，模拟IC尤其是电源管理IC（PMIC）的需求不断增长，广泛应用于移动、汽车、工业等领域。在这些应用场景中，对PMIC的功率密度、效率、成本、噪声等方面提出了更高要求，相应的验证测试面临诸多挑战，如需要降低验证系统成本、提高测试自动化程度、优化测量效率等。本方案旨在应对这些挑战，提供全面的PMIC验证解决方案。2025-06-13 15:26:12 -
高精度ADC/DAC测试方案
随着数字信号处理技术和数字电路速度的不断提升，系统对高速、高精度ADC/DAC的需求日益增强。在移动通信、图像采集等领域，ADC需同时满足高采样率和高分辨率数以分辨细微的变化。因此，需在高速、高精度条件下验证ADC/DAC的真实性能，同时克服系统级噪声、信号完整性及环境干扰的影响，确保实际应用中的可靠性和稳定性。2025-06-13 15:10:16 -
碳化硅(SiC)上管Vgs测试不再难，麦科信光隔离探头来帮忙
第三代半导体材料，尤其是碳化硅（SiC）和氮化镓（GaN），在电动汽车、可再生能源、工业电源、快充技术、无线通信、消费电子等领域中展现出巨大的市场前景。这些材料具有高热导率、高击穿场强、高饱和电子漂移速率和高键合能等优点，使其在高温、高压、高频以及抗辐射等恶劣条件下表现出色。这些材料虽然具有显著的性能优势，但开关速度很快的特点也给测试测量带来了不小的挑战。2025-05-07 09:56:25 -
麦科信光隔离探头在碳化硅(SiC) MOSFET动态测试中的应用
碳化硅（SiC）MOSFET 是基于宽禁带半导体材料碳化硅（SiC）制造的金属氧化物半导体场效应晶体管，相较于传统硅（Si）MOSFET，具有更高的击穿电压、更低的导通电阻、更快的开关速度以及更优异的高温和高频性能。2025-05-06 14:15:10 -
仪器租赁，加速高速数据传输和IC研发进程
企业办公（远程办公、客户交流等）、消费电子（智能手机/平板、智能医疗终端、其他各种智能设备）、车联网（智能座舱、智能驾驶）三大力量及其他不同场景需求（如金融交易、控制数据等）带来海量数据爆发增长，同时受多项国家政策推动，近年我国数据中心规模和营收均保持高速增长，高速数据接口相关产业群热度持续走高。若您在接口测试或电源完整性测试时遇到：资金不足？需求不确定？仪器货期太长？仪器租赁，能帮您快速获得高/中端测试设备！2025-02-10 11:09:41 -
是德多通道源表克服LIV测试挑战
垂直腔面发射激光器(VCSEL)是成像、传感技术和数据通信的关键部件。VCSEL的优势之一是能够在制造过程的早期阶段进行晶片级别的测试，相比之下，对其他边缘发射半导体激光器的测试通常在制造周期结束时进行，此时产品已达到生产的最后阶段。这种测试方法允许及早检测组件故障，通过在封装之前识别有缺陷的设备，大大节省了时间和成本。2023-08-25 15:56:21 -
如何快速测试半导体器件I/V特性？
电子测量仪器作为基础科研工具，是国家科研自主可控的重要环节。在半导体器件、超导材料和光电器件等测试领域中，为了更全面地检测器件特性，提升整个测试系统的效率，往往对供给电源和测量同步性方面有更严苛的要求。雷火电竞为您推荐更加便捷的国产测试解决方案，无需上位机软件，可直接在仪器界面设置并生成半导体元件如二极管、三极管、MOS管、IGBT等IV特性曲线，并可以直接调用常用器件库，帮您快速完成测试。2023-03-02 09:48:44 -
激光器测试
激光器测试对供电源有着极高的要求，为恒流供电方式。传统的电源，默认为CV环路优先，启动瞬间抑制电流过冲速度较慢。ITECH多系列可编程直流源具备CC/CV优先权功能，用户可根据测试需求调节环路速度，选择CV模式电压高速的测试场景，或是CC优先模式电流无过冲的场景。2022-11-30 11:34:11
